میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)
تاریخچه: میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) یا میکروسکوپ نیروی پویشی در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنینگ و گربراختراع شد. مانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی دیگر، AFM از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونه تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند. در مورد م.ن.ا، نوکی بر روی کانتی‌لیور (اهرم) وجود دارد که در […]